XploRA Nano - AFM-Raman for Physical and Chemical imaging

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पोर्टेबल Yes
पावर वोल्ट (v)
मटेरियल High-quality metals and advanced composite materials.
एप्लीकेशन Combined Atomic Force Microscopy (AFM) and Raman spectroscopy for physical and chemical imaging.
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के लिए उपयुक्त Research labs, universities, and industries requiring detailed physical and chemical characterization at the nanoscale.
कलर कोड black or metallic grey.
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उत्पाद की विशेषताएं

एप्लीकेशन Combined Atomic Force Microscopy (AFM) and Raman spectroscopy for physical and chemical imaging.
शर्त New
के लिए उपयुक्त Research labs, universities, and industries requiring detailed physical and chemical characterization at the nanoscale.
कलर कोड black or metallic grey.
उपयोग करें Materials science, nanotechnology research, and chemical analysis.
आयाम (एल* डब्ल्यू* एच) मिलीमीटर (mm)
प्रॉपर्टीज़ High spatial resolution, simultaneous imaging and spectroscopy capabilities.
वज़न किलोग्राम (kg)
प्रॉडक्ट टाइप XploRA Nano - AFM-Raman for Physical and Chemical imaging
पोर्टेबल Yes
पावर वोल्ट (v)
मटेरियल High-quality metals and advanced composite materials.

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The XploRA Nano combines Atomic Force Microscopy (AFM) with Raman spectroscopy to offer advanced physical and chemical imaging capabilities at the nanoscale. It enables simultaneous high-resolution imaging and detailed chemical analysis of samples. This integrated system is ideal for studying material properties, surface topography, and molecular structures with exceptional sensitivity and spatial resolution. The XploRA Nano is widely used in research and industry for applications ranging from nanotechnology and materials science to biological and pharmaceutical sciences, providing comprehensive insights into complex samples.

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मूल्य की इकाई : टुकड़ा/टुकड़ाs प्रॉपर्टीज़ : High precision, optical clarity, compatibility with multiple microscopy techniques. आयाम (एल* डब्ल्यू* एच) : सेंटीमीटर (cm) माप की इकाई : टुकड़ा/टुकड़ाs मटेरियल : metals and highgrade plastics. पावर : वोल्ट (v) वज़न : किलोग्राम (kg) न्यूनतम आदेश मात्रा : 1 मूल्य या मूल्य सीमा : आईएनआर एप्लीकेशन : Atomic Force Microscopy (AFM) and optical imaging के लिए उपयुक्त : Laboratories, research institutions, and industrial facilities requiring highresolution imaging and analysis. उपयोग करें : Research and industrial applications in nanotechnology and material science.

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मूल्य की इकाई : टुकड़ा/टुकड़ाs प्रॉपर्टीज़ : Enhanced sensitivity for detecting trace elements Portable and rugged design for field and laboratory use आयाम (एल* डब्ल्यू* एच) : मिलीमीटर (mm) माप की इकाई : टुकड़ा/टुकड़ाs मटेरियल : Highstrength plastic and aluminum alloy पावर : वोल्ट (v) प्रॉडक्ट टाइप : List No: r वज़न : किलोग्राम (kg) न्यूनतम आदेश मात्रा : 01 मूल्य या मूल्य सीमा : आईएनआर एप्लीकेशन : Environmental testing, material quality control, industrial process monitoring के लिए उपयुक्त : Professionals in environmental testing, material quality control, and industrial process monitoring

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मूल्य की इकाई : टुकड़ा/टुकड़ाs प्रॉपर्टीज़ : High precision, optical clarity, compatibility with multiple microscopy techniques. आयाम (एल* डब्ल्यू* एच) : सेंटीमीटर (cm) माप की इकाई : टुकड़ा/टुकड़ाs मटेरियल : highgrade metals and advanced composite materials. पावर : वोल्ट (v) वज़न : किलोग्राम (kg) न्यूनतम आदेश मात्रा : 1 मूल्य या मूल्य सीमा : आईएनआर एप्लीकेशन : Atomic Force Microscopy (AFM) and optical imaging. के लिए उपयुक्त : Laboratories, research institutions, and industrial facilities requiring highresolution imaging and analysis at the nanoscale. उपयोग करें : Research and industrial applications in nanotechnology and material science.

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